日前，創譜科技自主研發的X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀在新加坡國立大學圓滿完成安裝調試并正式交付使用。這是創譜科技XAFS產品的首個海外項目，標志著創譜科技高端X射線譜學儀器成功邁入國際高校科研平臺，實現了從“國內批量交付”到“海外首臺落地”的關鍵跨越。

XAFS是研究材料局部原子結構和電子態的核心手段。通過分析材料在X射線照射下的吸收譜，能夠精準獲取特定元素價態、配位結構、鍵長、配位數等核心微觀信息，是研究材料科學、催化化學、能源環境、納米材料等前沿領域不可或缺的工具。