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蔡司新型亞微米級三維X射線成像系統(tǒng)解鎖鋰離子電池內(nèi)
部的奧秘!

發(fā)布時間:2019-6-19     來源:國際金屬加工網(wǎng)

在新能源和再生能源市場飛速發(fā)展的今天,鋰離子電池由于其工作電壓高、質(zhì)量輕、能量密度大等優(yōu)點(diǎn)受到各行業(yè)的青睞。隨著技術(shù)的發(fā)展,其應(yīng)用領(lǐng)域正在從筆記本、手機(jī)等小型消費(fèi)電子走向電動汽車、航空航天、能源等大型機(jī)械。

蔡司X射線顯微鏡在鋰電池行業(yè)的應(yīng)用

鋰離子電池部件分為正負(fù)極材料、電解液、隔膜和包裝;目前研究難點(diǎn)在于提高壽命和能量密度,確保安全性能。

得益于蔡司獨(dú)有兩級放大成像系統(tǒng),蔡司Xradia Versa顯微鏡(XRM)在無損觀察內(nèi)部缺陷、正負(fù)極材料厚度、孔隙率的同時可以實(shí)現(xiàn)高分辨成像,這有助于企業(yè)和研究機(jī)構(gòu)加速研發(fā)、提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品安全性能。

封裝電池內(nèi)部缺陷檢測

X射線顯微鏡可用于封裝樣品內(nèi)部缺陷無損檢測,識別電池內(nèi)部的缺陷、毛刺、雜質(zhì)等質(zhì)量問題,為優(yōu)化工藝調(diào)整提供判斷依據(jù)。

封裝卷繞時,卷成的電芯應(yīng)緊密、不松散。隔膜和正負(fù)極卷得越緊,內(nèi)阻越小,但卷得過緊時會造成極片與隔膜濕潤困難,致使放電容量變??;卷得太松會使極片在充放過程中發(fā)生過度膨脹,增大了內(nèi)阻,降低了容量,縮短了循環(huán)壽命。上圖中在正極轉(zhuǎn)彎處出現(xiàn)裂紋,這會對鋰離子的嵌入和脫嵌產(chǎn)生影響。

正極材料孔隙率分析

X射線顯微鏡可應(yīng)用于電極材料孔隙率分析,協(xié)助提高電池能量密度。

老化效應(yīng)分析(充放電性能分析)

X射線顯微鏡可用于鋰離子電池的壽命與老化分析,無損檢測電池充放電循環(huán)前后內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化。

18650鎳酸鋰電池充放電100次,經(jīng)過循環(huán)后電池容量下降約6% 。

使用蔡司X射線顯微鏡分別對電池充放電前后進(jìn)行高分辨無損3D成像,可以觀察到在經(jīng)過充放電循環(huán)后,在電極材料外側(cè)邊緣出現(xiàn)裂紋,而在未循環(huán)電池中并未發(fā)現(xiàn)這些裂紋。

新型亞微米級三維X射線成像系統(tǒng)

基于高分辨率和襯度成像技術(shù),蔡司Xradia Versa顯微鏡(XRM)大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。傳統(tǒng)斷層掃描技術(shù)依賴于單一幾何放大,而XRM則采用光學(xué)和幾何兩級放大,同時使用可以實(shí)現(xiàn)更快亞微米級分辨率的高通量成像,最高空間分辨率可達(dá)到500nm。大工作距離下高分辨成像技術(shù)(RaaD)能夠?qū)Τ叽绺?、密度更高的樣品(包括零件和設(shè)備)進(jìn)行無損高分辨率3D成像。此外,可選配的平板探測器技術(shù)(FPX)能夠?qū)Υ篌w積樣品進(jìn)行快速宏觀掃描,為樣品內(nèi)部感興趣區(qū)域的掃描提供了定位導(dǎo)航。

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